c. [430.5077, 446.081 24. Problema 19 [pg. 294, ed. 9] (pg. 284, ed. 8) El articulo "Limited Yield Estimation for Visual Defect Sources" (IEEE Trans. On Semiconductor Manuf., 1997: 17-23) reporto que, en un estudio de un proceso particular de inspecci6n de lminas, 356 troqueles fueron examinados por una sonda de inspeccin y 201 de stos pasaron la prueba. Suponiendo que un proceso estable, a. a. calcule un intervalo de confianza (bilateral) de 95% para la proporcin de todos los troqueles que pasan la prueba. b. Si afios anteriores el porcentaje que pasaban inspecci6n era del 65%, el intervalo en el inciso a es argumento suficiente para decir que ya cambi6? Explique su respuesta.